Préface

Eric Villemonte de la Clergerie*, Yves Lepage**, Jean-Luc Minel***, Pascale Sébillot***

* Alpage, INRIA Paris-Rocquencourt 
Eric.De_La_Clergerie@inria.fr

** IPS, université Waseda, Japon 
yves.lepage@waseda.jp

*** MoDyCo, université Paris-Ouest Nanterre La Défense 
jminel@u-paris10.fr

**** IRISA, INSA de Rennes 
Pascale.Sebillot@irisa.fr